位于美國馬塞諸塞州格羅斯特市的巴頓菲爾?格羅斯特工程公司開發出創新的阻隔薄膜厚度掃描儀,它精度高,能迅速將數據傳送給工藝控制器,名為矩形框架式膜厚掃描儀,它采用一個固定的b 探測器,在任何溫度都能無接觸式地對多層薄膜進行測量,并對于所有的阻隔性樹脂均有效。同時它還能通過該公司的Extroltm 專利工藝控制系統,提供實時的控制采用中繼方式,和其他測厚儀相比,數據傳輸控制速率顯著提高。
矩形框架式膜厚掃描儀安裝在旋轉往復式牽引裝置和夾輥間,測量夾泡后的平折膜厚。掃描儀的b探測器安裝在矩形的框架中,薄膜通過框架后分離。探測器能精確地掃描薄膜的兩面,并在牽引裝置只是旋轉90度后傳輸數據。
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