在學習具體的測試算法之前，你應該了解可能遇到的各種存儲器問題。在軟件工程師中一個普遍的誤解是，大部分的存儲器問題發生在芯片的內部。盡管這類問題一度是一個主要的問題，但是它們在日益減少。存儲設備的制造商們對于每一個批量的芯片都進行了各種產品后期測試。因此，即使某一個批量有問題，其中某個壞芯片進人到你的系統的可能性是微乎其微的。

你可能遇到的一種類型的存儲芯片問題是災難性的失效。這通常是在加工好之后芯片受到物理或者是電子損傷造成的。災難性失效是少見的，通常影響芯片中的大部分。因為一大片區域受到影響，所以災難性的失效當然可以被合適的測試算法檢測到。

存儲器出問題比較普遍的原因是電路板故障。典型的電路板故障有：

（1）在處理器與存儲設備之間的連線問題

（2）無存儲器芯片

（3）存儲器芯片的不正確插人

 

Allen-Bradley PowerFlex 700S 1 HP 480V AC VS Drive 20DD

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Kollmorgen BDS4A-206J-0001\206B21P Servo Drive/Amp

Reliance 57C442-B 57C442B 57442-B Data Highway Plus Int

Honeywell NXS0150A1002 15HP VS Drive 380-500V 15 HP

Servomex Series 2010 Controller 2500A1FM2 20 mA 115V Mo

Allen Bradley 1336VT-B030-E0R-FA2-L3 30HP AC VS Drive 4

General Electric 8000 200 Amp F Feeder MCCB MCC Buc

Square D I-Line Breaker  KHB36225 225 Amp KH 600V 3P

Fanuc A05B-2406-C372 ISB UNIT A05B2406C372

Bently Nevada 3300/20 Dual Thrust Monitor 330020 30-0-3

Atlas Copco QCM-T 340 25 Controller Module 4240 033781

Yaskawa  CACR-SR10BZ1SSY367 Servopack CACRSR10BZ1SSY...

Telemecanique Altivar 71 ATV71HU30M3 VS AC Drive 240V 4